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Research center of Embrapa/Collection: Embrapa Solos - Capítulo em livro técnico (INFOTECA-E)
Date Issued: 2017
Type of Material: Capítulo em livro técnico (INFOTECA-E)
Authors: CALDERANO, S. B.
DUARTE, M. N.
GREGORIS, G.
Additional Information: SEBASTIAO BARREIROS CALDERANO, CNPS; MARIZA NASCIMENTO DUARTE, CNPS; GILSON GREGORIS, CNPS.
Title: Análise mineralógica das frações argila e silte por difratometria de raios-X.
Publisher: In: TEIXEIRA, P. C.; DONAGEMMA, G. K.; FONTANA, A.; TEIXEIRA, W. G. (Ed.). Manual de métodos de análise de solo. 3. ed. rev. e ampl. Brasília, DF: Embrapa, 2017. pt. 4, cap. 3, p. 452-471.
Language: pt_BR
Description: Utilizada desde a década de 1930 para identificação e determinação da estrutura de substâncias cristalinas, quer sejam orgânicas ou inorgânicas, naturais ou sintéticas, a difratometria de raios-X (DRX) é essencial para a caracterização mineralógica dos argilominerais e de outros constituintes cristalinos presentes nas frações granulométricas mais finas dos solos, como silte e argila. É considerada como a principal técnica para a identificação de minerais nessas dimensões e se tornou indispensável para estudos em mineralogia de solos. Além da identificação dos constituintes cristalinos das frações argila e silte, que é o objetivo principal da metodologia aqui apresentada, a DRX pode ser usada também para avaliação do grau de cristalinidade e tamanho do cristal, assim como para estimativas do grau de substituição isomórfica, e mesmo para fins de quantificação dos minerais presentes na amostra.
Thesagro: Mineralogia
Análise do Solo
Argila
NAL Thesaurus: Soil mineralogy
Soil analysis
Data Documento: 2019-03-21
Appears in Collections:Capítulo em livro técnico (CNPS)

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